密电阻是种，主要是有高度，低温漂和高可靠性的种电阻器。温漂可以做到1ppm，度可以做到0.01%。
其实，对于不是搞计量的不需要分的那么清楚，可以大体上认为高密、高准确、低误差等是个意思。但是，对于“度”词，可以分解成分解成三个要素：
1. 温度系数。温度变化是电阻的大敌，温度系数般用ppm/℃表示，即温度变化1度对应电阻变化百万分之几。100ppm/℃就是0.01%/℃。
2. 老化。也就是长期稳定性，般用ppm/年来表示，也有用%/年来表示的。出厂再怎么准确的电阻，如果老化大，那么很快就变了，也就失去高准确的意义了。
3. 初始调整误差，这个其实不太重要，知道偏差是多少，只要不变就没关系，测量时可以修正。因此，在本文里没做进不讨论。
对于度不太高的电阻，我们可以不分，笼统的说某电阻度是多少。比如0.1%度的电阻，就是个综合误差，实际上是说，在常温下(比如10℃-35℃)、1年之内，包括所有的误差，应该仍然能电阻在0.1%之内。
但是，对于要求高的地方，电阻的具体特性将被测试，这样才好选用。本文就将把常见的高度电阻器按照温度系数和老化两个指标做描述。
对于度不太高的电阻，我们可以不分，笼统的说某电阻度是多少。比如0.1%度的电阻，就是个综合误差，实际上是说，在常温下(比如10℃-35℃)、1年之内，包括所有的误差，应该仍然能电阻在0.1%之内。
但是，对于要求高的地方，电阻的具体特性将被测试，这样才好选用。本文就将把常见的高度电阻器按照温度系数和老化两个指标做描述。
常见的密电阻有三类：金属膜电阻、线绕电阻和块电阻。
金属膜电阻是常见的，但好些的为密金属膜电阻，特点是温度系数不大，阻值比较稳定。但由于膜比较薄因此相对脆弱些，螺旋切割和压接部分容易出问题。
密电阻的主要参数
1、度：度是来料检验的重要指标，是否所有的密电阻生产厂家在出厂前都做了100%的度测试？答案是否定的。虽然密电阻有很多不同的工艺和材料的区分，但几乎所有的密电阻都需要进行调阻才能做到“高密”。比如密薄膜电阻在表面进行激光调阻，而密箔电阻通过切断调阻带来调阻等。调阻的过程事实上是测量的过程，但调阻后的产品并非成品，还要经过封装等些后续工艺，这过程可能会对电阻的阻值造成影响。另外测量仪器的准确性和正确的测量方法也相当重要，尤其对于超过万分之度的电阻，以及毫欧电阻，高阻值的密电阻。
2、温漂：在电阻的规格书里，我们往往只看到个温漂指标，比如±5ppm/°c。实际的情况是很可能这个温漂指标并没有覆盖产品需求的工作温度范围，就是说在不同的温度区间内，同电阻的温漂是有区别的。应该说大多数的密电阻厂家的规格书里并没有明确定义不同温度区间的温漂指标，有些厂家只在整个工作温度范围内挑选其中的段曲线作为规格书中的温漂指标，这是个普遍的现象。
还有个事实是温漂的指标在出厂前很难被100%测量，测量需要昂贵的费用，另外要进行确的测量可能对产品本身是破坏性的，比如贴片电阻的温漂测量般都建议焊接在pcb板上进行，另外温漂的测量过程带来的应力会使阻值产生变化。温漂的控制主要基于电阻材料本身以及制造工艺。比如密箔电阻通过使用特殊的低温漂合金以及应力补偿的方式达到接近零温漂的性能。
3、负载寿命：负载寿命和三方面的因素相关，即功率、温度和时间。降额使用有助于减缓阻值的变化。
电阻阻值变化的活跃期往往在使用的前几百个小时，随着使用时间越长越是趋于稳定。这是由于随着时间的推移，电阻元素本身趋于稳定，或者电阻元素和基体之间的应力逐渐释放。负载寿命的指标只能通过抽样测试的形式进行监测，因为这种测试至少需要1千小时，航天的应用则可能需要高达1万小时的测试，且这种测试是破坏性的实验。对密电阻在使用前进行功率训练可以有效的加速电阻老化，使电阻趋于稳定，但会使电阻的阻值产生变化。
4、货架寿命：货架寿命用来考察电阻在标准或者存储条件下的阻值稳定性。和负载寿命样，电阻存放的时间越长，其阻值的变化也会趋于稳定。这就是为什么有些密仪器制造厂家采购密电阻并不立即使用，而是存储几个月甚至几年再去使用的原因。当然存储会导致电阻阻值的改变，但这种变化的趋势是越来越小。所以对于老批号的电阻，只要度在标称值以内，且焊脚没有氧化，其稳定性要优于新批号的电阻。电阻的存储尤其要注意湿度控制，湿度对于任何电阻的阻值都会产生很大的影响。例如各种膜式电阻，旦湿气进入就会在电阻层形成电解液，严重影响电阻的阻值。除了湿气还有空气中的各种性物质，如硫，盐雾等。作为计量应用的标准电阻会被注油后密封，从而隔外部环境应力对于阻值的影响，减少该电阻的年变化率。
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