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QVI Starlite 150测量仪 完全非接触式的检测系统以及唾手可得的交互

2021-10-3 17:57:56发布25次查看
  • 加工定制:是
  • 品牌:其他
  • 型号:QVI Starlite 150
  • 操作方式:遥杆控制
  • 分辨率:1.0um
  • 测量行程:其他
  • 放大倍率:35X 至 175X
  • 测量精度:E1=(7.0+8L/1000)um
  • 外形尺寸(长*宽*高):

一款紧凑型独立测量系统 
   starlite 150 是一款最新设计的,完全非接触式的检测系统以及唾手可得的交互式性能. 这就是您所需的精确可视测量系统.
    starlite 150 是检测和测量的理想选择,主要应用于塑料, 医疗设备和零件, 汽车行业, 航空航天, 电子行业以及更多其他行业.
特征:
• 铸铝底座 和圆柱形精密平台
• 高分辨率数码彩色相机 和变焦光学
• 精确xy 测量 达到好于 0.0002 inches
• 先进的图像处理性能,自动边缘扫描以及众多的视场内编辑工具
• measure-x® 测量软件,实现手动系统交互式测量
starlite 150–快速, 精确 以及可重复测量,正是您所希望的测量系统.
starlite 150 使用简单, 拥有符合人体工学的设计, 以及创新的功能齐全的软件. 带前置面板控制,可以提高生产效率– 电动变焦, xyz 归零设置, 输入点按钮, 斜对齐, 以及 英寸/毫米 切换按钮.
measure-x 测量软件 引导使用者通过绘图单元和独立工具来创建测量程,在手动系统上快速得到测量结果。  
starlite 150 详细参数
x-y 轴
英制单位
公制单位
xy 行程
6 x3
150x75mm
xy 精度
e2=(4.5+8l/1000)um
光栅尺分辨率
0.00004
1.0um
z-轴
z 行程
5
125mm
z 精度
e1=(7.0+8l/1000)um
光栅尺分辨率
0.00004
1.0um
可选性能
工作距离(带 vectorlight)
2.75
70mm
放大倍数 20 显示器
35x 至 175x
视场
0.070-0.35
1.8-8.9mm
物理特性
载重
15lbs
7kg
环境
温度,安全操作
59°f-86°f
15°c-30°c
达标温度
68°f±2°f
20°c±1°c

东莞市天测光学设备有限公司
张人雷
13603074946
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