平面平晶是以光波干涉原理为基础，利用平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的平面度。*平面平晶用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度。亦可用于检定高精度的平面零件，例如，平面光学零件、高级平台、平板、导轨、密封件等。平面平晶特别适用于计量单位、实验室作为标准平面和样板。 平面平晶的技术参数（备注：特殊规格、特殊材料平晶可定做）主要规格： φ 30φ 45 φ 60 φ 80
平行平晶是以光波干涉原理为基础，利用平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的误差程度,具有高精度的平面性和平行性。平行平晶用于检定千分尺、杠杆千分尺、杠杆卡规和千分尺卡规等量具测量面的平面度和两相对测量的平行度。 功能：平行平晶用于干涉法测量千分尺、卡规和千分表等测量面平面度、平面平行度。产品规格：共分四组，每组四块

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李玉静
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